SN74BCT8374ADWR

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Numero parte	SN74BCT8374ADWR
LIXINC Part #	SN74BCT8374ADWR
Produttore	Texas Instruments
Categoria	circuiti integrati › logica - logica di specialità
Descrizione	IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Ciclo vitale	Attivo
RoHS	Nessuna informazione RoHS
Modelli EDA/CAD	SN74BCT8374ADWR Impronta PCB e simbolo
Magazzini	USA, Europa, Cina, RAS di Hong Kong
Consegna stimata	Oct 22 - Oct 26 2024(Scegli spedizione rapida)
Garanzia	Fino a 1 anno [Garanzia limitata]*
Pagamento
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SN74BCT8374ADWR Specifiche

Numero parte:	SN74BCT8374ADWR
Marca:	Texas Instruments
Ciclo vitale:	Active
RoHS:	Lead free / RoHS Compliant
Categoria:	circuiti integrati
Sottocategoria:	logica - logica di specialità
Produttore:	Texas Instruments
serie:	74BCT
pacchetto:	Tape & Reel (TR)
stato della parte:	Obsolete
tipo logico:	Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
tensione di alimentazione:	4.5V ~ 5.5V
numero di bit:	8
temperatura di esercizio:	0°C ~ 70°C
tipo di montaggio:	Surface Mount
pacchetto/caso:	24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
pacchetto del dispositivo del fornitore:	24-SOIC

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