SN74BCT8374ADWRE4

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Numero parte SN74BCT8374ADWRE4
LIXINC Part # SN74BCT8374ADWRE4
Produttore Texas Instruments
Categoria circuiti integratilogica - logica di specialità
Descrizione IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Ciclo vitale Attivo
RoHS Nessuna informazione RoHS
Modelli EDA/CAD SN74BCT8374ADWRE4 Impronta PCB e simbolo
Magazzini USA, Europa, Cina, RAS di Hong Kong
Consegna stimata Oct 07 - Oct 11 2024(Scegli spedizione rapida)
Garanzia Fino a 1 anno [Garanzia limitata]*
Pagamento Wire Transfer, UnionPay, PayPal, Credit Card, Visa, MasterCard, AmericanExpress, Discover, WesternUnion, MoneyGram
Spedizione DHL, UPS, FedEx, TNT, EMS, & More Express Delivery

SN74BCT8374ADWRE4 Specifiche

Numero parte:SN74BCT8374ADWRE4
Marca:Texas Instruments
Ciclo vitale:Active
RoHS:Lead free / RoHS Compliant
Categoria:circuiti integrati
Sottocategoria:logica - logica di specialità
Produttore:Texas Instruments
serie:74BCT
pacchetto:Tape & Reel (TR)
stato della parte:Obsolete
tipo logico:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
tensione di alimentazione:4.5V ~ 5.5V
numero di bit:8
temperatura di esercizio:0°C ~ 70°C
tipo di montaggio:Surface Mount
pacchetto/caso:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
pacchetto del dispositivo del fornitore:24-SOIC

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