SN74LVTH182512DGGR

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Numero parte	SN74LVTH182512DGGR
LIXINC Part #	SN74LVTH182512DGGR
Produttore	Texas Instruments
Categoria	circuiti integrati › logica - logica di specialità
Descrizione	IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Ciclo vitale	Attivo
RoHS	Nessuna informazione RoHS
Modelli EDA/CAD	SN74LVTH182512DGGR Impronta PCB e simbolo
Magazzini	USA, Europa, Cina, RAS di Hong Kong
Consegna stimata	Oct 23 - Oct 27 2024(Scegli spedizione rapida)
Garanzia	Fino a 1 anno [Garanzia limitata]*
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SN74LVTH182512DGGR Specifiche

Numero parte:	SN74LVTH182512DGGR
Marca:	Texas Instruments
Ciclo vitale:	Active
RoHS:	Lead free / RoHS Compliant
Categoria:	circuiti integrati
Sottocategoria:	logica - logica di specialità
Produttore:	Texas Instruments
serie:	74LVTH
pacchetto:	Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)
stato della parte:	Active
tipo logico:	ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
tensione di alimentazione:	2.7V ~ 3.6V
numero di bit:	18
temperatura di esercizio:	-40°C ~ 85°C
tipo di montaggio:	Surface Mount
pacchetto/caso:	64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
pacchetto del dispositivo del fornitore:	64-TSSOP

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